 万昇半导体:
		 专注芯片测试&治具开发
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电脑IC芯片南北桥片测试服务 笔记本显卡 内存 CPU 6Y30检测
	
	 
 
	
	 
 
 电脑IC芯片南北桥片测试服务 笔记本显卡 内存 CPU 6Y30检测 ,测试人才十分专业,测试流程简便,测试效率快速可靠;治具采用进口探针和防静电材料制作;结构设计科学合理且方便维修维护。
 
	
我司将对Intel 6代CPU 6Y30外观及功能、性能进行检测,严格按照与客户协商的质量等级进行分类,测试完成后可出具质量汇总表。
我司拥有从业近十年 专业且资深的测试人才, 测试效率高效快捷。
我司独立开发的笔记本CPU测试治具 夹具, Intel 6代CPU 6Y30测试治具探针具有特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,不会损坏锡球,大大降低产品损坏率。
我司开发的笔记本CPU测试治具采用的是手动翻盖式结构,操作简单便捷。
笔记本CPU测试治具上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证测试的CPU压力受力均匀,稳固不移位。
 
	
 
 
1)请联系我们确认需求,并提供产品详细信息;
2)商讨确认产品的交付时间,服务合作价格;
3)签订合同,交付代测试的产品;
4)工厂对产品进行测试,测试完成后提交测试数据报表并交付产品 
	
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万昇半导体测试治具(夹具)[http://www.ceshizhiju.cn/]。目前网站展示的产品信息并不全面,大部分芯片测试&治具开发服务产品并未一一发布,如果你有芯片测试&治具开发服务需求,请按下列方式联系我们,也可在线反馈你的需求,我们会在24小时内回复到您!
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   微信公众号:芯片测试治具 ,
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